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在半導(dǎo)體制造、食品質(zhì)檢、制藥分析及金屬工業(yè)檢測等領(lǐng)域,高精度、高穩(wěn)定性的近紅外(NIR)光源已成為關(guān)鍵工具。日本Seiwaopt公司推出的SIS-150系列近紅外鹵素?zé)粼矗ê琒IS-150-NIR和SIS-150-AIR兩個型號)憑借其寬光譜覆蓋、智能調(diào)光系統(tǒng)及工業(yè)級可靠性,為多行業(yè)提供了高效的檢測與成像解決方案。
SIS-150系列提供兩種波長配置,滿足不同材料的檢測需求:
SIS-150-NIR:波長范圍 400-1100nm(峰值800nm),適用于硅基材料(如晶圓)的內(nèi)部缺陷檢測,其光譜特性可穿透硅晶圓,實(shí)現(xiàn)背面圖案觀察和內(nèi)部雜質(zhì)定位。
SIS-150-AIR:波長范圍擴(kuò)展至 400-1700nm(峰值1000nm),適用于食品、農(nóng)產(chǎn)品、制藥及金屬行業(yè)的深層檢測,如糖分分布分析、藥品成分均勻性檢測及金屬內(nèi)部裂紋識別。
技術(shù)優(yōu)勢:1700nm波段可探測C-H、O-H等化學(xué)鍵振動,適用于有機(jī)物成分分析,如食品水分含量、藥品活性成分分布等。
SIS-150系列提供四種調(diào)光方式,適應(yīng)不同自動化需求:
256級數(shù)字調(diào)光:高精度亮度調(diào)節(jié),適用于實(shí)驗(yàn)室級成像。
模擬調(diào)光(0-5V控制):兼容工業(yè)PLC系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)線性亮度調(diào)整。
并行/串行調(diào)光(8bit數(shù)字信號或RS232C協(xié)議):支持遠(yuǎn)程計算機(jī)控制,適用于自動化產(chǎn)線集成。
雙重保護(hù)機(jī)制:
過流保護(hù)(需重新上電恢復(fù))
過溫保護(hù)(自動恢復(fù),防止設(shè)備損壞)
狀態(tài)監(jiān)控:燈滅信號輸出(集電極開路)可連接外部報警系統(tǒng),確保檢測過程穩(wěn)定。
強(qiáng)制風(fēng)扇冷卻:保障長時間連續(xù)工作,適應(yīng)0-40℃環(huán)境溫度。
應(yīng)用:Si晶圓的內(nèi)部雜質(zhì)、微裂紋檢測及背面電路圖案觀察。
優(yōu)勢:800nm峰值波長匹配硅的透射特性,穿透深度達(dá)數(shù)百微米,提高缺陷檢出率。
應(yīng)用:水果糖度分布、水分含量檢測,農(nóng)產(chǎn)品蟲害及成熟度分析。
優(yōu)勢:近紅外吸收成像(如1450nm水分特征峰)實(shí)現(xiàn)非破壞性檢測,提升分選效率。
應(yīng)用:藥片成分均勻性檢測、生物組織熒光成像。
優(yōu)勢:避免紫外光損傷樣本,結(jié)合窄帶濾光片可增強(qiáng)特定成分成像對比度。
應(yīng)用:金屬裂紋、氣孔、夾雜物檢測及熱處理效果分析。
優(yōu)勢:1700nm波段對金屬氧化物敏感,可識別微觀結(jié)構(gòu)差異。
冷卻要求:確保設(shè)備周圍≥10cm空間,避免高溫環(huán)境(>40℃)影響壽命。
遠(yuǎn)程控制:DC5V觸發(fā)信號兼容工業(yè)控制器,建議使用屏蔽線減少電磁干擾。
系統(tǒng)集成:RS232C接口支持自定義協(xié)議開發(fā),適用于自動化檢測流水線。
相比傳統(tǒng)鹵素?zé)粼矗琒IS-150系列的優(yōu)勢在于:
? 寬光譜可選(NIR/AIR版本),適應(yīng)不同檢測需求。
? 多模式調(diào)光,支持實(shí)驗(yàn)室高精度檢測與工業(yè)高速分選。
? 高可靠性,雙重保護(hù)機(jī)制確保長時間穩(wěn)定運(yùn)行。
Seiwaopt SIS-150系列近紅外鹵素?zé)粼磻{借其先進(jìn)的光學(xué)性能、靈活的調(diào)光控制及工業(yè)級穩(wěn)定性,成為半導(dǎo)體、食品、制藥及金屬檢測領(lǐng)域的理想選擇。無論是實(shí)驗(yàn)室研究還是自動化產(chǎn)線集成,該設(shè)備均能提供高精度、高穩(wěn)定性的近紅外照明解決方案。