日本santec可變波長光學元件掃描測試系統

產品型號：

所屬分類：光源

產品時間：2025-08-02

簡要描述：日本santec可變波長光學元件掃描測試系統
通過結合可變波長光源（TSL系列），功率計（MPM），偏振控制單元（PCU-100）和定制軟件，在研發(fā)和生產線上對IL / WDL / PDL進行有效的測量和評估你能行的。

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日本santec可變波長光學元件掃描測試系統

掃頻測試系統

通過結合可變波長光源（TSL系列），功率計（MPM），偏振控制單元（PCU-100）和定制軟件，在研發(fā)和生產線上對IL / WDL / PDL進行有效的測量和評估你能行的。

多站測量

通過將掃頻測試系統與多分支單元相結合，可以進一步提高檢查和評估的效率。

總覽

掃頻測試系統結合了可變波長光源（TSL系列），多端口功率計（MPM系列），偏振控制單元（PCU-100）和軟件，是光學設備和生產現場研發(fā)的理想選擇。這是一個評估工具。通過實時參考可變波長光源的輸出功率同時獲取通過DUT傳輸的光功率，可以高精度地測量IL / WDL / PDL。該系統使用穆勒矩陣方法來計算PDL。

特性

• 實時電源參考
• 高精度的IL / WDL / PDL特性測量-
  高IL重現性<±0.02
  dB-高PDL重現性±0.01 dB
• 縮放算法-
  具有高波長分辨率和波長精度
  的測量-減少測量時間
• 可以進行多通道測量
• 圖形用戶界面和DLL支持（Visual Studio）-
  易于設置測量參數-
  數據分析

WDL（與波長有關的損耗）測量

80 dB或更高的高動態(tài)范圍測量

我們的可變波長光源TSL系列配備了具有創(chuàng)新設計的諧振器，可減少ASE光學噪聲，同時實現很高的信噪比和很高的光學輸出功率。因此，該系統可以同時評估具有高動態(tài)范圍特性的光學組件的多個端口的特性。
下圖分別顯示了CWDM濾波器和陷波濾波器（例如FBG）的測量數據。

波長精度高+/- 3 pm

由于TSL系列標配了波長監(jiān)視器，因此可以高精度地測量光學組件。
下圖顯示了乙炔（12C2H2）氣體吸收線的測量波長，可以看出以*的測量精度可以進行測量。

波長分辨率低于0.1 pm

該系統不僅可以用于WDM的光學組件，而且可以用于窄線寬濾光片，以高波長分辨率測量WDL和PDL。
該圖是超高Q容量設備的測量結果，您可以看到它可以以0.1 pm或更小的分辨率進行測量。

運用

• 光學組件，模塊評估-
  波長選擇開關（WSS），AWG，波長阻擋器-
  波長可變?yōu)V波器，交織器，FBG，耦合器，隔離器，光學開關
  -DWDM組件
• 光子器件/微腔諧振器評估
• 光譜測量

配置示例

1. PDL（極化相關損耗）測量

• • 可變波長光源TSL-710 / TSL-550
  • 偏光控制器PCU-100
  • 光功率計MPM-210

2. WDL（波長相關損耗）測量 ??

• 可變波長光源TSL-710 / TSL-550
• 光功率計MPM-210

3. WDL（波長相關損耗）測量（其他公司的功率計）

• 可變波長光源TSL-710 / TSL-550
• 掃頻處理單元SPU-100
• 光功率計（需要記錄功能）
  示例）Keysight 816 x A / B，774 x A功率計
  光電探測器+ DAQ

日本santec可變波長光學元件掃描測試系統

多站點檢測

在多站測量系統中，可變波長光源，偏振控制器和多分支單元用作服務器，并且光和觸發(fā)信號從它們分支并發(fā)送到每個站。每個站僅包含一個功率計和一臺PC。

在測量期間，服務器的可變波長光源連續(xù)掃描預定范圍。因此，每個站可以隨時獨立于其他站進行測量。

這樣，該系統可以在保持高精度特性的同時進一步提高檢查和評估的效率。

• 可調諧激光器TSL-710 / TSL-550
• 偏光控制器PCU-100
• 多分支單位/ MBU-100
• 光功率計MPM-210