在烘焙行業(yè)的精細化發(fā)展進程中，面包體積與質構參數的精準測量已成為研發(fā)創(chuàng)新與質量控制的核心環(huán)節(jié)。傳統(tǒng)排水法測量不僅效率低下（單樣品檢測耗時超 3 分鐘），更因接觸式測量破壞樣品完整性，導致數據參考價值大打折扣。日本 k-axis 研發(fā)的 AR-01 面包激光體積計，以非接觸式激光掃描技術為核心，實現了測量精度與檢測效率的雙重突破，為烘焙企業(yè)提供了從實驗室研發(fā)到生產線質檢的全場景解決方案。
雙攝像頭激光技術：重新定義測量精度
AR-01 采用雙攝像頭激光掃描系統(tǒng)，搭載 670nm 可見半導體激光光源，通過 52 段精細旋轉分割掃描，實現了 ±1% 的測量精度與 ±0.2% 的重復測量精度。這種高精度表現源于其創(chuàng)新的 "激光切片" 測量原理 —— 激光束以 400 點 / 線的高密度采樣率對面包表面進行方位掃描，結合雙視角圖像融合算法，還原不規(guī)則曲面的三維形態(tài)，解決了傳統(tǒng)油菜籽填充法因顆粒間隙導致的 ±5% 以上誤差問題。
設備的測量范圍精準覆蓋直徑 300mm、高度 150mm 的各類面包產品，無論是蓬松的吐司、造型復雜的歐式面包還是小巧的餐包，都能獲得穩(wěn)定可靠的數據。特別設計的非接觸式測量方式，避免了對松軟面包結構的壓迫變形，確保了數據的真實性與樣品的完整性，這對研發(fā)階段的配方優(yōu)化尤為重要。
研發(fā)場景：質構參數驅動配方革新
在烘焙研發(fā)領域，AR-01 的核心價值在于其超越傳統(tǒng)體積測量的 "質構 - 體積" 聯(lián)動分析能力。設備不僅能精準測量體積、長徑、試驗、短徑等基礎參數，更能同步計算面包的縱橫比、剛度（こしもち）等關鍵質構指標，這些參數直接關聯(lián)面團發(fā)酵程度、面筋網絡結構等工藝核心要素。
某連鎖烘焙企業(yè)研發(fā)總監(jiān)反饋："使用 AR-01 后，我們能通過剛度參數量化評估不同面粉筋度對面包彈性的影響，將新品開發(fā)周期從原來的 45 天縮短至 30 天。" 這種效率提升源于設備的多模式測量設計 —— 在高精度模式下，40 秒即可完成一次包含體積、質構、形態(tài)的全參數檢測，數據直接以 CSV 格式導出至 Excel，無需人工轉錄，大幅降低了數據誤差率。
品控場景：靈活速度適配生產需求
針對生產線質檢的高頻次需求，AR-01 提供三種可切換的測量模式：雙攝像頭高速模式（20 秒 / 樣品）、單攝像頭極速模式（10 秒 / 樣品）以及高精度分析模式（40 秒 / 樣品）。這種靈活性使其既能滿足批次抽檢的效率要求，又能應對關鍵工藝節(jié)點的精細檢測。
與市場同類產品相比，AR-01 展現出鮮明的場景適配優(yōu)勢：相較于側重 3D 建模的 Volscan Profiler，AR-01 以更簡潔的操作和針對性參數直擊面包質構核心需求；對比主打大樣品測量的 BolScan BVM 系列，其 150mm 高度的測量范圍更契合中小型面包的常規(guī)檢測場景。某中央工廠的實際應用顯示，采用 AR-01 后，每班的質檢效率提升了 300%，同時因體積偏差導致的產品報廢率下降了 2.3%。
數字化賦能：從數據采集到決策支持
AR-01 搭載的多語言操作系統(tǒng)（含簡體中文）支持測量數據的即時存儲與趨勢分析，通過連續(xù)記錄的體積、比容（可選配重量傳感器）等參數，可建立面團發(fā)酵、烘烤工藝的數字化模型。這種數據驅動模式使研發(fā)人員能精準捕捉配方微調對產品品質的影響，例如通過 | g 酵母添加量變化導致的 0.8% 體積差異，從而實現工藝參數的精細化控制。
在質量追溯體系中，設備生成的標準化檢測報告可直接對接生產管理系統(tǒng)，滿足食品行業(yè)嚴苛的合規(guī)性要求。某烘焙集團的品控經理評價："AR-01 的數據分析功能讓我們終于實現了從 ' 經驗判斷 ' 到' 數據說話 ' 的轉變。"
從實驗室的配方優(yōu)化到生產線的質量把關，K-Axis AR-01 激光體積計正以其精準的測量性能、靈活的應用場景和數字化的管理能力，重新定義烘焙行業(yè)的品質控制標準。對于追求研發(fā)效率與產品一致性的烘焙企業(yè)而言，選擇 AR-01 不僅是檢測設備的升級，更是生產模式向精細化、數字化轉型的關鍵一步。
