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基材與電鍍及電解試劑的各種組合膜厚計(jì)測試儀-電解膜厚儀GCT-311
Windows 規(guī)格，
全功能可實(shí)現(xiàn)多達(dá) 5 層的多層薄膜測量
- 使用個(gè)人計(jì)算機(jī)提高可操作性和增強(qiáng)功能 - 使用Windows 規(guī)格輕松處理數(shù)據(jù) -最多可以注冊 50 個(gè)測量通道 - 可以為多層膜設(shè)置最多 5 層的測量條件- 當(dāng)出現(xiàn)異常值時(shí)，測量值顯示在紅色報(bào)告中，并帶有顯示和警告聲。
改進(jìn)的可操作性和增強(qiáng)的功能
通過使用個(gè)人計(jì)算機(jī)提高了可操作性并增強(qiáng)了功能。
簡單的數(shù)據(jù)處理
使用 Windows 規(guī)范可以輕松完成數(shù)據(jù)處理。
最多可注冊 50 個(gè)頻道
最多可注冊 50 個(gè)測量通道。
多達(dá) 5 層多層薄膜
可以為多層膜設(shè)置最多 5 層的測量條件。
具備異常值發(fā)生時(shí)的警告功能
當(dāng)通過設(shè)置上下限出現(xiàn)異常值時(shí)，測量值顯示為紅色并發(fā)出警告聲音。
自動(dòng)顯示使用的電解液類型
所用電解液的種類由薄膜和基材的組合自動(dòng)顯示。
易于檢查的顯示處理方法
您可以檢查測量單元的顯示處理方法。
可分別測量純錫層和合金錫層
“錫/銅"測量可分別對(duì)純錫層和合金錫層進(jìn)行測量。
輕松測量雙鎳和三鎳之間的電位差
雙鎳和三鎳之間的電位差可以通過使用比較電極（選項(xiàng)）和電位圖測量輕松測量。
| 測量范圍 | 0.01-300微米 |
| 低分辨率 | 0.001微米 |
| 身體精度 | ± 1% |
| 測量單位 | 微米、毫米、密耳、毫升 |
| 測量區(qū)域 | 1.7、2.4、3.4mmφ |
| 電源供應(yīng) | AC100V |
| 車身尺寸 | W265 × D215 × H138mm |
| 重量 | 4.5公斤 |
| 控制 | Windows 規(guī)格個(gè)人電腦 |
| 電鍍類型 | 電解質(zhì) | 基材 |
| 銅 | K-44 | 鐵、鋁、鎳、坡莫合金、銀、可伐合金、鉬、不銹鋼、 非金屬 |
| K-52 | 黃銅、鈹銅、鉛、鋅壓鑄、鎳銀、錫、鎘 | |
| 鎳 | K-54 | 鐵、鋁、黃銅、銅、鉻鎳鐵合金、鉬、鎢、不銹鋼、 非金屬、鉻 |
| 化學(xué)鍍鎳 | K-57 | 鐵、鋁、可伐合金、非金屬、不銹鋼、鉬 |
| 鉻合金 | K-51 | 鐵、鋁、鎳、不銹鋼、非金屬、鉻鎳鐵合金 |
| 鋅 | K-46 | 鐵、鋁、黃銅、銅、鎳、非金屬、錫、鎢 |
| 錫 | K-47G | 鐵、鎳、鎳銀、鎳銀、坡莫合金、鎘、非金屬 |
| K-51 | 鋁 | |
| K-50 | 銅、黃銅 | |
| 銀 | K-44 | 鐵、鋁、非金屬、坡莫合金、可伐合金 |
| K-48 | 黃銅、銅、錫、非金屬 | |
| K-48G | 鎳、鎳銀、鎳銀 | |
| 焊接 | K-44 | 鐵、鋁、黃銅、銅、非金屬 |
| 鈷 | K-54 | 鐵、黃銅、銅、非金屬 |
| 黃銅 | K-44 | 鐵、鋁、非金屬 |
| 表面處理液 | N-64 | 鎳測量后的除膠劑 |
| CS | 清洗懸浮液：用于去除被測物體上的污垢和拋光樹脂 |
